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エネルギー分散型X線マイクロアナライザー付走査型電子顕微鏡

外観写真
装置名 エネルギー分散型X線マイクロアナライザー付走査型電子顕微鏡
メーカー名 日本電子(株)
形式 JSM-6010PLUS/LA In Touch Scope
導入年度 2014年度
貸付料
依頼試験手数料 23,500円/1測定
(2019年9月30日まで)
23,900円/1測定
(2019年10月1日以降)

仕様

検出元素:Be4~U92
試料移動範囲:X;80mm、Y;40mm、Z;5~48mm、傾斜-10°~+90°
倍率:300,000倍

概要

電子顕微鏡により測定部位を探して、試料の形態を変化させることなく、微小領域での物質の元素分析を行う装置で、分布状況も把握できます。

設置機関

あいち産業科学技術総合センター 三河繊維技術センター 産業資材開発室

測定事例

試験・分析材料

金属、複合材料、プラスチック、高分子、木材・紙、有機物、セラミックス、繊維

試験・分析内容

定量・定性分析、顕微鏡観察

お問い合わせ先

あいち産業科学技術総合センター 三河繊維技術センター 産業資材開発室
電話:0533-59-7146

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