エネルギー分散型X線マイクロアナライザー付走査型電子顕微鏡
装置名 |
エネルギー分散型X線マイクロアナライザー付走査型電子顕微鏡 |
メーカー名 |
日本電子(株) |
形式 |
JSM-6010PLUS/LA In Touch Scope |
導入年度 |
2014年度 |
貸付料 |
- |
依頼試験手数料 |
23,500円/1測定 (2019年9月30日まで) 23,900円/1測定 (2019年10月1日以降) |
仕様
検出元素:Be4~U92
試料移動範囲:X;80mm、Y;40mm、Z;5~48mm、傾斜-10°~+90°
倍率:300,000倍
概要
電子顕微鏡により測定部位を探して、試料の形態を変化させることなく、微小領域での物質の元素分析を行う装置で、分布状況も把握できます。
設置機関
あいち産業科学技術総合センター 三河繊維技術センター 産業資材開発室
測定事例
-
試験・分析材料
金属、複合材料、プラスチック、高分子、木材・紙、有機物、セラミックス、繊維
試験・分析内容
定量・定性分析、顕微鏡観察
お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 三河繊維技術センター 産業資材開発室
電話:0533-59-7146