計測分析に関する講演会-Ｘ線を用いた工業材料の構造解析　薄膜･粒子構造解析-の参加者を募集します

2013.09.25

１　日時

　平成２５年１１月１日(金）　午後１時３０分から４時４０分まで

２　場所

　あいち産業科学技術総合センター　１階　講習会室

　（豊田市八草町秋合1267-1　東部丘稜線リニモ　陶磁資料館南駅下車すぐ）

３　主催等

　主催　あいち産業科学技術総合センター

　共催　公益財団法人科学技術交流財団

４　内容

　「微小角入射Ｘ線回折を利用した薄膜構造の解析」

　　講師：神戸大学大学院工学研究科　小寺(　賢 氏

　「小角Ｘ線散乱を用いた構造解析　～溶液･粉体から薄膜まで～」

　　講師：ブルカー･エイエックスエス株式会社  森岡　仁) 氏

　「工業材料のＸ線回折及び散乱測定」～事例報告～

　　担当：あいち産業科学技術総合センター  共同研究支援部　計測分析室  主任  杉山(　信之

５  参加費

　　無料

６  定員

　　100名（先着順）

７  申込方法

　技術開発に取組む企業の方々を始め、どなたでも自由に参加できます。

参加申込書に必要事項を記入の上、FAX、郵送または電子メールでお申込みください。

申込書はあいち産業科学技術総合センターのホームページ(https://www.aichi-inst.jp/other/seminar/)からダウンロードできます。

８  申込期限

　平成25年10月31日（木）午後5時まで（定員に達し次第締め切ります）。

　※参加受付証は発行しません。お申込みの上、直接会場にお越し下さい。

　なお、定員超過の場合のみ連絡させていただきます。

９  申込先及び問合せ先

　あいち産業科学技術総合センター共同研究支援部　計測分析室  中尾、大野

　〒470-0356  豊田市八草町秋合1267-1

　電話：0561-76-8315  FAX：0561-76-8317

　mail：AIC0000001@chinokyoten.pref.aichi.jp

　URL ：https://www.aichi-inst.jp/ 

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