あいち産業科学技術総合センター 共同研究支援部では、 地域企業の皆様の製品開発や製造現場に
おける技術上の問題、不良品発生や破損・故障の原因究明等について職員が無料※で相談、指導に応
じています。
(※技術相談等の結果、試験機器を用いた分析等が必要な場合には、依頼試験(有料)にてご対応いたします。)
依頼試験のご案内
- 機器分析
- シンクロトロン光利用
- 積層造形(3Dプリンタ)
- EMC(電磁両立性)
- 機械研磨では困難な断面試料作製事例【Arミリング加工、FIB加工】
- NMR(核磁気共鳴)によるPE・PPの混合比測定
- XPSによる樹脂上の保護テープ由来の残留粘着剤の分析
- 白色X線CTを用いたCFRP内部構造の観察・3D化
- XAFSを用いた化学状態の精密分析
- 積層造形装置を活用した測量用機器の開発
- ノイズ対策作業における作業効率化ツールの活用
- 付録 技術相談におけるキーワード集
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共同研究支援部 技術支援事例のご紹介
- 事例1 エンドミル刃先の成分測定 -エネルギー分散型蛍光X線(EDX)-
- 事例2 日本酒の成分測定 -液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS)-
- 事例3 半導体積層構造の観察 -透過電子顕微鏡(TEM)-
- 事例4 樹脂の劣化解析 -核磁気共鳴(NMR)-
- 事例5 亜鉛材料の高温測定 -X線回折装置(XRD)-
- 事例6 薄膜表面の汚染分析 -飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)-
- 事例7 アルミニウム酸化膜の深さ方向測定 -X線光電子分光測定装置(XPS)-
- 事例8 ナノレベルの表面の組成分析 -オージェ電子分光測定装置(AES)-
- 積層造形装置を利用した試作
- 電波暗室・EMC試験
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